干擾會(huì )降低局部放電測試的檢測靈敏度，應將干擾電平抑制到最低水平。干擾的種類(lèi)通常包括：電源干擾、接地系統干擾、電磁輻射干擾、測試設備各部件的放電干擾、各種接觸干擾。這些干擾及其對測試回路的訪(fǎng)問(wèn)。

　　一、電源干擾。探測器和測試變壓器使用的電源連接到低壓配電網(wǎng)，配電網(wǎng)中的各種高頻信號會(huì )直接造成干擾。因此，通常采用屏蔽電源隔離變壓器和低通濾波器進(jìn)行抑制，效果非常好。

　　二、接地干擾。測試電路接地不當。例如，在有兩個(gè)或多個(gè)地的接地網(wǎng)系統中，各種高頻信號會(huì )通過(guò)接地線(xiàn)耦合到測試電路中，造成干擾。這種干擾通常與測試電壓水平無(wú)關(guān)。測試電路使用單點(diǎn)接地來(lái)減少這種干擾。

　　三、電磁輻射干擾。在高壓帶電設備或高壓輸電線(xiàn)路附近，無(wú)線(xiàn)電發(fā)射機和除測試電路之外的其他高頻信號如晶閘管和電刷以電磁感應或電磁輻射的形式耦合到雜散或雜散電感上。測試電路，其波形往往難以與樣品的內部放電區分開(kāi)來(lái)，對現場(chǎng)測量影響很大。它的特點(diǎn)是與測試電壓無(wú)關(guān)。消除這種干擾的基本對策是將樣品放置在良好屏蔽的實(shí)驗室中。使用平衡法、對稱(chēng)法和模擬天線(xiàn)法的測試回路也可以抑制輻射干擾。

　　四、暫停的潛在放電干擾。由靠近測試電路的未接地金屬產(chǎn)生的感應浮動(dòng)電位放電也是一種常見(jiàn)的干擾類(lèi)型。它的特點(diǎn)是測試電壓升高，但其波形一般更容易識別。消除的對策一是遠離，二是接地。

　　五、電暈放電和每個(gè)接頭處的接觸放電干擾。電暈放電發(fā)生在高電位的試驗電路的導電部分，如試件法蘭、金屬帽、試驗變壓器、耦合電容端部、高壓端部等。帶領(lǐng)。由于各連接處接觸不良，測試電路中也可能出現接觸放電干擾。這兩種干擾的特性隨著(zhù)測試電壓的增加而增加。消除此類(lèi)干擾的方法是在高壓端采用防暈環(huán)措施（如防暈環(huán)），高壓引線(xiàn)采用不導暈的導電管，接頭之間接觸良好。

　　六、測試變壓器和耦合電容的內部放電干擾。這種放電很容易與樣品的內部放電相混淆。因此，所用試驗變壓器和耦合電容的局部放電水平應控制在一定的允許量以下。

        以上就是華意電力局部放電試驗中的干擾類(lèi)型和方式對的介紹，如果您還有更多想要了解的，歡迎在線(xiàn)或來(lái)電咨詢(xún)。