進(jìn)行繼電保護裝置測試時(shí)，繼電保護測試儀的開(kāi)入量與保護裝置動(dòng)作與否、動(dòng)作時(shí)間等息息相關(guān)。 現場(chǎng)試驗經(jīng)常會(huì )出現繼電保護跳了，但繼保測試儀未收到動(dòng)作接點(diǎn)，檢查開(kāi)入接線(xiàn)、保護動(dòng)作均良好，單獨短接開(kāi)入量進(jìn)行測試時(shí)也顯示正常。 針對此類(lèi)問(wèn)題，我們可以從開(kāi)入量的原理入手進(jìn)行分析。　　

△ 圖1 開(kāi)入量端子原理圖　　

△ 圖2 無(wú)電位接點(diǎn)        △ 圖3 帶電位接點(diǎn)

　　圖1以開(kāi)入A舉例說(shuō)明，其他路開(kāi)入量與開(kāi)入A原理相同，并共用電源和COM端。 設圖中電壓源電壓為 U1，圖1中O1為光耦，光耦負邊通至測試裝置主板，當光耦由通變斷或由斷變通，即光耦的通斷狀態(tài)有變化時(shí)，測試儀會(huì )記錄光耦狀態(tài)變化瞬間的時(shí)刻。

　　此電路的工作原理： O1最小導通電流為Imin，最大工作電流為Imax，回路電流為I，當I≥Imin，時(shí)，O1導通，IImax時(shí)，電路燒壞。 下面我們以不帶電位接點(diǎn)(圖 2)和帶電位接點(diǎn)(圖3)兩種情況進(jìn)行說(shuō)明。

　　直接從保護裝置跳閘端子接線(xiàn)，未引入直流電源回路。 試驗時(shí)可能會(huì )出現兩種接法：

　　1、取1、2兩點(diǎn)接入測試裝置的開(kāi)入量COM、A，由于無(wú)電位，兩點(diǎn)接線(xiàn)可以任意交換。 此時(shí)，若開(kāi)關(guān)為分，電路開(kāi)路， I=0，光耦不通。 當保護裝置給出跳閘信號時(shí)，圖中開(kāi)關(guān)會(huì )由分到合，此時(shí) ，(U1、R1、R2的值固定)光耦導通，測試裝置記錄動(dòng)作。 此種接法進(jìn)行測試時(shí)通常不會(huì )出現異常。

　　2、當從1、3兩點(diǎn)接入時(shí)，回路中多串入一個(gè)電阻R，此時(shí) ，電流I的大小取決于R，R越大，I越小，當R足夠大導致I

　　2、COM接點(diǎn)1，A接點(diǎn)3，此種情況開(kāi)關(guān)未閉合時(shí)電流 ，光耦不通。 當保護跳閘，開(kāi)關(guān)閉合時(shí)，開(kāi)關(guān)兩端電壓為 0V，此時(shí)電流 ，光耦還是不通，測試裝置無(wú)法記錄動(dòng)作，因此此種接法錯誤。

　　3、COM接點(diǎn)2，A接點(diǎn)3，此種情況開(kāi)關(guān)未閉合時(shí)，電流 ，若R較小，能使I≥Imin，則光耦導通，當保護跳閘，開(kāi)關(guān)閉合時(shí)，電阻R上的電壓UR=U2，電流 ，光耦不通。 這樣光耦由通變?yōu)椴煌?，狀態(tài)有變化，測試裝置能正常記錄動(dòng)作時(shí)間。 若 R較大，使得開(kāi)關(guān)未閉合時(shí)電流 ，光耦不通，此種情況無(wú)論開(kāi)關(guān)是否閉合，光耦均不通，測試裝置無(wú)法正常記錄保護動(dòng)作。 因此此種接法和不帶電位的第二種接法一樣，能否正常測試均取決于 R的大小，一般不建議采用。

　　除此之外，還有其他接線(xiàn)方法以及純電位高低的測試，其原理和以上列舉的基本類(lèi)同，不再贅述。

　　綜上所述，現場(chǎng)試驗時(shí)，無(wú)論是不帶電位接點(diǎn)還是帶電位接點(diǎn)，接線(xiàn)盡量采用兩種情況下列舉的第一種接線(xiàn)方式，通常不會(huì )出現異常。 無(wú)法正常記錄時(shí)，可以甩開(kāi)保護接線(xiàn)，在測試裝置運行時(shí)用短接線(xiàn)直接對 A和COM短接，若測試裝置能正常記錄動(dòng)作，則可以排除繼保測試儀的故障。

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