絕緣電阻隨溫度上升而減小，泄露電流隨溫度增大而上升，介質(zhì)損失隨溫度變化比較復雜可能增大也可能減小。濕度增大使絕緣電阻減小，絕緣表面泄漏電流增大， 介質(zhì)損耗增大。

分析：

(1)絕緣電阻（兆歐表）。

1、溫度的影響:溫度對絕緣電阻的影響很大，一般絕緣電阻是隨溫度的上升而減小的。 當溫度升高后，絕緣介質(zhì)中的極化加劇， 電導增加，致使電阻值降低，并與溫度的變化程度以及絕緣材料的性質(zhì)和結構等有關(guān)。因此測量絕緣電阻時(shí)必須記錄溫度，以便將其換算到同一溫度進(jìn)行比較。

2、濕度的影響:絕緣表面吸附潮氣，瓷套表面形成水膜，常使絕緣電明旦著(zhù)降低，當空氣中相對濕度較大時(shí)會(huì )吸收較多的水分，增加了電導，也使絕緣電阻值降低。

(2)泄漏電流（直流高壓發(fā)生器）。

1、溫度的影響:直流泄漏試驗與絕緣電阻試驗一樣， 溫度對試驗結果的影響十分顯著(zhù)。隨著(zhù)溫度的上升，泄漏電流增加。

2、濕度的影響:泄漏電流有表面泄漏電流和體積泄漏電流之分，我們要測量的是體積泄漏電流。在惡劣的氣候、表面臟污、受潮的條件下，設備表面泄漏電流很大，甚至超過(guò)體積泄漏電流,致使泄漏電流試驗結果不準確。此時(shí)必須采用屏蔽方法，以消除表面泄漏電流對泄漏電流試驗的影響。

(3)介質(zhì)損耗（異頻介質(zhì)損耗測試儀）。

1、溫度的影響:介質(zhì)損耗與溫度關(guān)系較為復雜，在溫度較低時(shí)電導損耗和極化損耗都很小。隨溫度升高因偶極子轉向容易，從而使極化損耗顯著(zhù)增加，電導損耗略有增加。在某一溫度下，總的介質(zhì)損耗達到極大值，當溫度繼續升高時(shí)分子熱運動(dòng)妨礙偶極子在電場(chǎng)作用下規則排列，極化損耗減小。在此階段雖然電導損耗仍然是增加的，但增加的程度比極化損耗減少的程度小，所以總效果減小。隨著(zhù)溫度進(jìn)一步升高電導損耗急劇增大，總的損耗此時(shí)以電導損耗為主，也隨之急劇增大，這種情況tanδ隨溫度的變化趨勢和電介質(zhì)損失率隨溫度的變化一-致。

2、濕度的影響:空氣中相對濕度增大會(huì )使絕緣設備表面泄漏電流增加，由于絕緣設備表面泄漏電流是阻性電流，因而導致tanδ增大:長(cháng)期濕度過(guò)高還容易導致絕緣受潮，從而引起tanδ變大。

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