集中電阻

電流通過(guò)實(shí)際接觸面時(shí)，由于電流線(xiàn)收縮(或稱(chēng)集中)顯示出來(lái)的電阻。將其稱(chēng)為集中電阻或收縮電阻。

膜層電阻

由于接觸表面膜層及其他污染物所構成的膜層電阻。從接觸表面狀態(tài)分析;表面污染膜可分為較堅實(shí)的薄膜層和較松散的雜質(zhì)污染層。故確切地說(shuō)，也可把膜層電阻稱(chēng)為界面電阻。

導體電阻

實(shí)際測量電連接器接觸件的接觸電阻時(shí)，都是在接點(diǎn)引出端進(jìn)行的，故實(shí)際測得的接觸電阻還包含接觸表面以外接觸件和引出導線(xiàn)本身的導體電阻。導體電阻主要取決于金屬材料本身的導電性能，它與周?chē)h(huán)境溫度的關(guān)系可用溫度系數來(lái)表征。

為便于區分，將集中電阻加上膜層電阻稱(chēng)為真實(shí)接觸電阻。而將實(shí)際測得包含有導體電阻的稱(chēng)為總接觸電阻。

在實(shí)際測量接觸電阻時(shí)，常使用按開(kāi)爾文電橋四端子法原理設計的接觸電阻測試儀(毫歐計)，其專(zhuān)用夾具夾在被測接觸件端接部位兩端，故實(shí)際測量的總接觸電阻R由以下三部分組成，可由下式表示:

R= RC + Rf + Rp,式中:RC-集中電阻;Rf-膜層電阻;Rp-導體電阻。

接觸電阻檢驗目的是確定電流流經(jīng)接觸件的接觸表面的電觸點(diǎn)時(shí)產(chǎn)生的電阻。如果有大電流通過(guò)高阻觸點(diǎn)時(shí)，就可能產(chǎn)生過(guò)分的能量消耗，并使觸點(diǎn)產(chǎn)生危險的過(guò)熱現象。在很多應用中要求接觸電阻低且穩定，以使觸點(diǎn)上的電壓降不致影響電路狀況的精度。